涂层测厚仪leeb252C
本仪器是磁性、涡流一体的便携式涂层测厚仪，它能快速、无损伤地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域，是材料保护重要的仪器。
详细介绍
【主要功能】
● 采用了磁性和涡流两种测厚方法，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。
● 具有两种测量方式:连续测量方式和单次测量方式
● 具有三种测量模式:高精度测量模式可对多次测量取平均，并对可疑数据进行自动过滤，可确保测量值更加准确、稳定;快速测量模式可实现实时扫描功能。
● 具有温度补偿功能:实时温度补偿技术可自动对环境温度及测头温度改变引起的测量误差进行补偿，使测量更准确。
● 设有五个统计量:平均值( MEAN)、 最大值( MAX)、最小值( MIN )测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV )。
● 可采用零点校准、单点校准或两点校准法对仪器进行校准并可用基本校准和温度系数校准法对测头的系统误差进行修正。
● 具有存储功能:最多可存储500个测量值。
● 具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存储区内的所有数据，以便进行新的测量。
● 可设置限界:对限界外的测量值自动报警。
● 具有电源电量指示功能。
● 操作过程有蜂鸣声提示。
● 说有三种关机方式：手动关机方式，超时自动关机方式以及低电量自动关机方式，并可设置超时自动关机等待时间
【技术参数】
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项目 |
Leeb252C |
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测头类型 |
F1 |
N1 |
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工作原理 |
磁感应 |
电涡流 |
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测量范围 |
0~1500μm |
0~1500μm |
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低限分辨率 |
100um以下0.1um,100um以上1um |
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示值误差 |
零点校准 |
±（3%H+1） |
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两点校准 |
±[（1~3%)H+1] |
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测试条件 |
最小曲率半径mm |
凸1.5 |
凹3 |
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最小面积直径mm |
Φ7 |
Φ5 |
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基本临界厚度mm |
0.5 |
0.3 |
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工作环境 |
温度 |
0~40℃ |
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湿度 |
20%~90% |
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电源 |
二节7号碱性电池（1.5V） |
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外形尺寸 |
112×70×23mm（主机） |
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重量 |
约80g |
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标准配置 |
主机、标准试片、基体、AAA型碱性电池 |
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【校准方法】
本仪器提供两种测量中使用的校准方法:零点校准和两点校准;以及两种针对探头的校准方法:基本校准
零点校准
在不同基体上进行测量时重新进行零点校准，当校准使用的基体与待测试件基体性质偏差较大时,测量值将会产生偏差。可使用以下两种方法之一进行零点校准:
方法1:a)在基体上进行一次测量 ，屏幕显示< xxμm>。
b)在提起测头之后长按“校正” 键，屏显<0.0um>，校准完成。
方法2:可短按“校正” 进入校准界面，对基体进行测量，按“确认”键，然后跳过下一个界面“测量(1000um)时,按“跳过”键校准完成。
两点校准
这一校准法适用于高精度测量及小工件、淬火钢、合金钢。
a)可短按“校正”进入校准界面，对基体进行零点校准，屏幕显示<xxxum> ,按“确认”确认。
b)按提示测量(1000um)的标准片，屏幕显示< xxxum>。按“确认”键确认。(或没有1000um的标准片时，找厚度接近的膜片代替，需要在仪器上设置膜片的厚度，操作方法如下,在提示测量( 1000um )的标准片时，按“设置”键，进入设置校正值界面，按“∧”“∨”键来调整膜片的厚度值，然后按"确认“键确认，返回到校正界面,这里测量( xx xum )就做相应的改变了。
图片欣赏
 涂层测厚仪leeb210（不可更换测头） |
 涂层测厚仪leeb220 |
 里博leeb242涂层测厚仪 |
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