243E手持式涂镀层测厚仪-测紧固件

243E手持式涂镀层测厚仪-测紧固件

日立分析仪器243E手持式涂镀层测厚仪是一款灵便、易用的仪器,为金属表面处理者设计。配置的单探头可测量铁质底上金属镀层,即使在小的、几何形状的或表面粗糙的样品上都可以进行测量。这款测厚仪是紧固件行业应用的工具,采用基于相位的电涡流技术。

243E手持式测厚仪易于用户控制,并且可以同X射线荧光测厚仪的准确性和精密性,并且免去了对多探头、操作培训和持续保养的需要。

详细介绍

优势:

1采用基于相位的电涡流技术集测量精密、价格合理、质量优势于一体的手持式测厚仪。

2为金属表面处理者设计。配置的单探头可测量铁质底上金属镀层-即使在小的、几何形状的或表面粗糙的样品上都可以进行测量。

3易于用户控制,并且可以同X线荧光测仪的准确性和精密性。

4为了让客户能以低成本购买243E免去了对多探头、操作培训和持续保养的需要。

 

测工件细节图展示:

1.测直径4mm圆柱体的测面

 

2.测直径3mm的小钉子的顶部

 

 

3.测小钉子侧面

 

 

 

测量技术:

一般的测试方法,例如一般测厚仪制造商所采用的普通磁感应和涡流方式,由于探头的" 升离效应" 导致的底材效应,和由于测试件形状和结构导致的干扰,都无法达到对金属性镀层厚度的测量。

牛津仪器将基于相位的电涡流技术应用到243E,使其达到了±3%以内(对比标准片)的准确度和0.3% 以内的精确度。

牛津仪器对电涡流技术的特有应用,将底材效应最小化,使得测量准确且不受零件的几何形状影响。

另外,仪器一般不需要在铁质底材上进行校准。

 

基本配置包括:

ECP-M探头及拆除指南

  Rs232串行电缆

  校准用铁上镀锌标准片组

  可选配SMTP-1(磁感应探头)

 

测量范围:

铁上镀层    镀层厚度范围     探头

Zn            0–38μm       ECP-M

Cd      ´      0–38μm       ECP-M

Cr            0–38μm      ECP-M

Cu            0–10μm      ECP-M

 

技术参数及功能:

准确度:相对标准片±3%

精确度:0.3%

分辨率:0.1μm

电涡流:遵循DIN50984, BS5411 Part 3, ISO 2360, ISO 21968草案, ASTM B499, ASTM E376

存储量:26,500 条存储读数

尺寸:14.9 x 7.94 x 3.02 cm

重量:0.26 kg 包括电池

单位:英制和公制的自动转换

接口:RS-232串行接口,波特率可调,用于下载至打印机或计算机

显示屏:三位数LCD液晶显示

电池:9伏碱性电池,65小时连续使用

ECP-M探头ECP-M探头为较难测量的金属覆层设计,此单探头可以测量铁质底材上金属覆层,例如锌、镍、铜、铬和镉。更小的探针为小的、几何形状的或表面粗糙的零件提供了便捷的测量。

 

ECP-M探头规格(mm)

最小凸面半径

1.143

最小凹面半径

1.524

测量高度

101.6

最小测量直径

2.286

底材最小

304.8

 

243E是一款灵便、易用的仪器,为金属表面处理者设计。配置的单探头可测量铁质底上金属镀层-即使在小的、几何形状的或表面粗糙的样品上都可以进行测量。这款测厚仪是紧固件行业应用的工具。采用基于相位的电涡流技术。

243E手持式测厚仪易于用户控制,并且可以同X射线荧光测厚仪的准确性和精密性。为了让客户能以低成本购买。OXFORD-243E免去了对多探头、操作培训和持续保养的需要。

 

牛津涂层测厚仪

牛津仪器公司提供高一般的测试方法,例如一般测厚仪制造商所采用的普通磁感应和涡流方式,由于探头的" 升离效应" 导致的底材效

应,和由于测试件形状和结构导致的干扰,都无法达到对金属性镀层厚度的测量。

牛津仪器将基于相位的电涡流技术应用到243E,使其达到了±3%以内(对比标准片)的准确度和0.3% 以内的精确度。牛津仪器对电涡流技术的特有应用,将底材效应小化,使得测量值且不受零件的几何形状影响另外,仪器一般不需要在铁质底材上进行校准。ECP-M探头为较难测量的金属覆层设计,此单探头可以测量铁质底材上金属覆层,例如锌、镍、铜、铬和镉。更小的探针为小的、几何形状的或表面粗糙的零件提供了便捷的测量。


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