涂层厚度有几种检测方法，你知道吗？

涂层厚度是一个重要的工艺参数，在产品质量、过程控制和成本控制中都发挥着重要的作用。现在，人员可以利用许多不同种类的仪器和方法来测量涂层或薄膜的厚度。而在选取测量方法时需要考虑到许多因素，包括涂层的类型、基体材料、涂层厚度范围、被测件的形状和尺寸以及测量成本等。
涂层厚度测量一般有测量法，例如磁性测量、涡流测量、超声波测量以及千分尺测量等；此外还有破坏性的测量法，例如横断面测量法和重量分析法等。对于粉末和液体状涂料，在其干燥固化前同样可以采取一些方法对其薄膜厚度进行测量。下面我们就来盘点一下那些常用的测量仪器与方法。

1、适用范围

磁性测厚计是一种测量法，通常用于测量铁基底板上非磁性涂层的厚度。钢和铁上大多数涂层都是以这种方式测量的。 

2、操作原理 

磁性测厚仪大多使用的都是两种操作原理中的一种：磁性拉伸或磁/电磁感应原理。 

(1) 磁性拉伸式测厚仪

磁性拉伸式测厚仪用到的主要是一个磁铁、校准弹簧以及一把刻度尺。磁铁与磁性钢基体之间的吸引力会把这两者拉在一起，随着分离两者的涂层厚度增加，磁铁变得容易拉出。
因此，涂层厚度主要就是根据这种拉拔力来测量。较薄的涂层一般具有大的磁引力，而较厚的薄膜涂层则具有相对较小的磁引力。磁性拉伸式测厚仪对于测量样品的表面粗糙度、曲率、基底厚度以及金属合金的组成成分。
磁性拉伸式测厚仪简单、便宜并且便于携带，通常不需要校正调整。在生产过程中如果要少量读数，它们将是一种测量解决方案。
拉伸式测厚仪通常呈铅笔型或回滚式表盘型。铅笔式机型使用的是一个安装在螺旋弹簧（垂直于涂层表面）上的磁铁。
大多数铅笔式拉伸式测厚仪都使用较大的磁铁，并且设计在一两个能够补充部分重力影响的位置工作。通过使用微小的，磁铁可以将其制成质量更好的版本，用于测量面积较小或难以达到的表面。当该测厚仪指向下、向上或水平公差在±10％时，三重指示器可保障测量的精确性。
回滚式表盘型是磁性拉伸式测厚仪常见的形式。磁铁连接到旋转平衡臂的一端并连接到校准的游丝上。通过用手指旋转表盘，弹簧增加磁体上的力并将其从表面拉出。
这些测量仪易于使用，并具有平衡臂，使其能够在位置上工作，与重力无关。涂料承包商在粉末涂敷操作时使用较多，测量偏差在±5%左右。

(2) 磁/电磁感应测厚仪

磁感应测厚仪（如图3所示），其使用永磁体作为磁场源，利用霍尔效应发生器或磁动电阻器来感测磁体磁极处的磁通密度。
电磁感应测厚仪使用交变磁场，采用缠绕有细线圈的柔软铁磁棒来产生磁场。另一根线圈则用于检测磁通量的变化。
这些电子仪器可以测量磁探针表面附近的钢表面上的磁通量密度变化。探头表面的磁通密度的大小与钢基板的距离直接相关。因此，通过测量磁通密度，就可以涂层厚度。
这类电子式电磁计具有许多的形状和尺寸，它们通常使用恒压探头来提供不受操作者主观影响的数据，测量读数会清晰的显示在液晶显示器（LCD）上。它们可以选择存储测量结果或者对读数进行即时分析，并将结果输出到打印机或计算机上进行下一步检查。该类仪器的测量偏差一般为±1％左右。
为了获得准确的测量结果，操作人员应当仔细遵循制造商的使用说明。测试方法可参考D7091，ISO 2178以及ISO 2808等标准。

涡流测厚仪一般用于测量位于非铁金属基板上的绝缘涂层的厚度，该方法同样属于一种测量法。
该仪器使用能够传导高频交流（1MHz以上）的细线线圈在仪器探针的表面产生交变磁场。当探针靠近导电表面时，交变磁场将在该表面上形成涡流。基体材料的特性以及探头和基体的距离（也即是涂层厚度）会影响涡流的大小。
该涡流又会产生一种相对电磁场，该电磁场可由励磁线圈或另一个相邻的线圈感测出来。
涡流测厚仪外观以及操作均类似于电磁感应测厚仪。这类仪器能够测量非铁金属上的涂层厚度。
与电磁感应测厚仪一样，其通常使用恒压探头并在LCD屏幕上显示测量结果。此外，它们还可以选择存储测量结果或者对读数进行即时分析并输出到打印机或计算机进行下一步检查。
测量偏差一般为±1％左右。测试对表面粗糙度、曲率、基底厚度，金属基底材料的类型以及其与边缘的距离较为敏感。测试方法可以参考ASTM B 244，ASTM D 7091以及ISO2360等标准。
现在，许多测厚仪都将电磁感应原理和涡流原理结合到一个体系中。一些简单的测量任务可以根据需求自动从一种操作原理切换到另一种原理以测量大多数金属上的涂层厚度。这些整合体系已经受到了油漆业和粉末涂布业的欢迎。

超声波测厚仪中所使用的超声回波脉冲技术一般用于测量非金属基体材料（例如塑料、木材等）表面上的涂层厚度，而且，该方法属于一种测量方法，不会对测量样品造成损坏。
该仪器的探头包含一个超声波换能器，能够发出脉冲并通过涂层。脉冲然后从基体材料反射回换能器并转换为高频电信号。通过对回波波形进行数字化分析，人们可以知道涂层的厚度。在某些情况下，利用该仪器还可以测量多层系统中的某一单层厚度。
该方法的测量标准偏差一般在±3%左右，测量方法可以参考ASTM D6132标准。

人们有时还会用千分尺来测量涂层的厚度。它们具有测量涂层/基体组合的优点，但缺点是需要接触到基底面。

接触涂层的上表面和基底的下表面有时是困难的，并且它们通常不能准确测量出某些薄涂层的厚度。因此，利用该方法进行两次测量，一次是在含有涂层的表面上进行测量，另一次则是在没有涂层的表面上进行测量。这两个度数的差值，也即是测量的高度差，就是该涂层的厚度大小。在一些粗糙表面上，该方法一般在高处测量涂层的厚度。

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