非金属(金属)多层测厚仪LEEB281
手持非金属(金属)多层测厚仪,带数值显示,A/B扫描功能。采用脉冲反射超声波测厚原理,适用于能使超声波以一恒定速度在其里面传播,并能从其背面得到反射的超薄薄膜材料或者涂层厚度的测量。测量分辨率达0.001mm,测量范围薄至0.02mm,可以同时测量涂层和基材的厚度。
本产品可应用于石油、化工、冶金、造船、航空航天、能源等各个领域。可测各种金属,非金属(玻璃,塑料,复合材料,混凝土,木材等)基材上涂层厚度,并兼具透过涂层测厚仪及金属涂层测厚仪所有功能。
符合 标准《超声波测厚仪校准规范》 JJF 1126-2004。
详细介绍
主要功能:
● 测量范围宽,最小测量厚度,涂层20um,最大测量厚度1800mm;
● 可测每一层最薄0.02mm(20um),对声速2310m/s的塑料材料,最低0.05mm(50um)。对声速低于1000m/s的涂层材料,最薄可测0.02mm(20um),加基材测量厚度最厚可达1800mm,可以测十层复合层每一层的厚度但不限于十层(无数层),且不限于涂层和基材的材质,任何材质均可以测量;
● 高精度测厚,最高测量分辨率可达0.001mm;重复分辨率可达±0.002mm;
● A-扫描模式,B-扫描模式,数值显示模式;
● 具有穿透涂层和回波到回波测量功能,用于测量表面带有漆层和涂层的材料;
● 根据材料声速不同可以检测部分复合材料上的涂层和和漆层,可以同时测量10个以上的多层材料各层厚度,同一回波下切换显示各层厚度值;
● 多种测量:THIN,MB-E,E-E,Auto模式满足对常规厚工件测量;THIN E-E模式对薄涂层测量;
● 数值模式包括常规厚度值模式、差值/缩减率模式和最值模式;
● 增益模式:自动增益/手动增益;
● 可设置手动关机与自动关机,带节能功能;
● 可使用多种不同规格探头,双晶探头和单晶探头,最高支持20Mhz高频探头;
● 支持大容量存储,可同时存储10万个厚度值,500组A扫描波形和500组B扫描波形;
● 具有多种校准方式,支持一点校准、多点校准和手动校准模式,可以同时校准声速和探头零位;支持V声程校准。
● 公英制转换;毫米和英寸可切换单位;
● 中文和英文显示;
适用材料:
测量金属和非金属(玻璃,复合材料,塑料,混凝土,木材等)基材上涂层厚度
适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、树脂、玻璃纤维及其他超声波的良导体的厚度。
基本原理:
采用脉冲反射超声波测厚原理,适用于能使超声波以一恒定速度在其里面传播,并能从其背面得到反射的超薄薄膜材料或者涂层厚度的测量。
规格参数:
项目 |
LEEB281 |
探头类型 |
单晶/双晶 |
测量范围 |
20μm – 1800mm |
测量频率 |
4Hz、8Hz、16Hz |
分辨率 |
0.1mm、0.01mm、0.001mm(0.01inch、0.001inch、0.0001inch) |
脉冲发生器 |
负方波发射,脉冲宽度和电压自动与探头进行匹配 |
声速范围 |
400-19999m/s |
校准试块 |
4mm(钢) |
自动关机 |
可选择5分钟,10分钟,20分钟,手动关机 |
探头校准 |
一点校准、二点校准,手动校准 |
增益 |
自动增益、手动增益 |
增益范围 |
0~80dB |
检波方式 |
射频RF、正半波POS、负半波NEG、全波FULL |
测量模式 |
(1)THIN-EE:薄膜涂层模式(2)MB-E:发射脉冲始波至一次回波;(3)E-E:穿透涂层测量,可选任意Em– En回波;(4)THIN:薄壁测量模式 |
数值模式 |
厚度值模式、差值/缩减率模式、最大/最小值模式 |
A-扫描模式 |
支持 |
B-扫描模式 |
支持 |
耦合指示 |
支持 |
电量指示 |
支持 |
语言 |
中文/英文(English) |
单位 |
毫米/英寸 (mm/inch) |
菜单操作 |
支持 |
软件功能 |
动态闸门设置、消隐设置(Blank)、回波消隐设置(E-Blank)、回波冻结、回波平移和缩放 |
存储功能 |
同时支持10万个厚度(100组,每组1000个),500组A扫描波形和500组B扫描波形 |
主机程序升级 |
支持主机程序升级 |
显示屏 |
3.5寸真彩色屏 |
数据传输 |
支持USB通信,将数据传输至计算机 |
工作温度 |
-10℃~+50℃,有特殊要求可达-20℃ |
工作电压 |
三节5号 锂离子电池,当电量不足时,有低电压提示 |
外形尺寸 |
184 x 85 x 32 (mm) |
整机重量 |
250 g(不含电池) |
标准配置 |
主机1台、涂层专用探头1个 5号锂电池3节,充电器一个,随机文件1套,防震防水仪器箱1个 |